|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
SPECIAL FORM SCAN FOR SEM BASED ON MICROPROCESSOR AND ITS APPLICATIONстатья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 апреля 2018 г.
- Авторы: Sasov A.Y., Sokolov V.N., Rau E.I.
- Журнал: Scanning electron microscopy
- Том: 5
- Номер: 1
- Год издания: 1989
- Издательство: Scanning Electron Microscopy
- Местоположение издательства: Chicago Il, United States
- Первая страница: 17
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович