|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Сканирующая резистивная микроскопия оксидов графенастатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАКДата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 марта 2018 г.
- Авторы: Мешков Г.Б., Синицына О.В., Раджабзода Ш.С., Григорьева А.В., Яминский И.В.
- Журнал: Наноиндустрия
- Том: 7
- Номер: 78
- Год издания: 2017
- Издательство: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 48
- Последняя страница: 53
- DOI: 10.22184/1993-8578.2017.78.7.48.53
- Аннотация: С помощью сканирующей резистивной микроскопии измерена локальная электропроводность оксидов графена, выращенных методом локального анодного окисления на поверхности графита и полученных химическим методом. Скорость роста оксида на поверхности графита контролировалась величиной электрического напряжения между иглой и образцом. Для слоев оксида, выращенных при низких напряжениях, обнаружена существенная пространственная неоднородность электропроводности. Оксиды графена, полученные при высоких напряжениях и химическим методом, характеризовались однородной локальной электропроводностью.
- Добавил в систему: Ахметова Ассель Иосифовна
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Nanoindustriya_No7_Skaniruyuschaya_rezistivnaya_mikroskopiy… | 1,9 МБ | 8 ноября 2017 [assellka] |