|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Анализ вопросов мониторинга малоплотных нано-дисперсных слоёв для ИТСтезисы доклада
- Авторы: Громов А.И., Акунец А.А., Борисенко Н.Г., Пастухов А.В., Перваков К.С.
- Сборник: LII Международная Звенигородская конференция по физике плазмы и управляемому термоядерному синтезу 17 – 21 марта 2025 г., г. Звенигород. Сборник тезисов докладов. М.: АО НТЦ «ПЛАЗМАИОФАН», 2025 г
- Тезисы
- Год издания: 2025
- Первая страница: 171
- Последняя страница: 171
- DOI: 10.34854/ICPAF.52.2025.1.1.128
- Аннотация: Обсуждаются проблемы, специальные вопросы прецизионного мониторинга малоплотных нано-дисперсных слоёв, а также низкоплотных полимерных слоёв, в том числе с включением металлических наночастиц. Имеется ряд задач, в которых используются подобные слои; среди основных: эффективная конверсия лазерного излучения в рентгеновское, повышение устойчивости сжатия и увеличение нейтронного выхода. Такие слои и покрытия могут использоваться и в качестве конструкционных слоёв. Исследования и измерения с паспортизацией подобных слоёв проводятся в Нейтронно-физическом отделе ФИАН достаточно длительное время [1,2]. Для контроля подобных слоёв используются методы микрорадиографии в мягком (3-8) кВ рентгеновском излучении, причём для получения достаточно высокого разрешения изображения (микроны) требуется экспозиции от десятков минут до нескольких часов и применение специальных приспособлений [3]. Преодолен ряд трудностей при работе с микро-количествами веществ в микрообъёме. Кроме того, для прецизионного мониторинга использованы: оптические методы, сканирующая электронная микроскопия и рентгеновской томография с программой обработки изображений [3,4]. Общепризнано, что точность мониторинга, который постепенно, с течением времени, совершенствуется, прямо влияет на достоверность результатов эксперимента и планирования дальнейших исследований [4,5]. Измерения важны для сопровождения экспериментов по уменьшению плотности слоёв, целях диагностики, что актуально и часто требуется для текущих и будущих научных работ. Значительное внимание уделяется измерениям с использованием микро-томографии, это позволяет более точно видеть микроструктуру слоя [6].
- Добавил в систему: Пастухов Александр Валерианович