|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Characteristics of Dielectric Film Charging, Depending on Their Thickness upon Electron Irradiationстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 9 июня 2015 г.
- Авторы: Gostev A.V., Evstaf’eva E.N., Rau E.I., Tagachenkov A.M., Tatarintsev A.A.
- Журнал: Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
- Том: 78
- Номер: 9
- Год издания: 2014
- Издательство: Allerton Press Inc.
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 833
- Последняя страница: 838
- DOI: 10.3103/S106287381409007X
- Аннотация: Basic principles of charging dielectric films on conducting substrates upon irradiation with electrons of average energy are considered. A ratio associating the equilibrium charging potential and the mean thickness of the dielectric film is calculated. The analytical expression is in good agreement with experimental results over a wide range of energies for electrons irradiating the target.
- Добавил в систему: Евстафьева Екатерина Николаевна