|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Experimental investigation of self-assembled opal structures by atomic force microscopy, spectroscopic ellipsometry and reflectometryстатья
- Авторы: ALEKSEEVA N., CEMA G., LUKIN A., PAN’KOVA S., SOLOVYEV V., VEISMAN V., YANIKOV M.
- Журнал: Journal of Self-Assembly and Molecular Electronics
- Том: 1
- Год издания: 2013
- DOI: 10.13052/jsame2245-4551.124
- Добавил в систему: Панькова Светлана Витиславовна