|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Reflection Second-Harmonic Microscopy of Porous Silicon Structuresтезисы доклада
- Авторы: Yongseok J., Maidykovski A., Nagorsky N., Magnitskiy S., Sychev F., Ejov A., Aktsipetrov O.
- Сборник: Frontiers in Optics, OSA Technical Digest (CD)
- Тезисы
- Год издания: 2006
- Место издания: Optical Society of America, United States
- Первая страница: paper FWE3
- Добавил в систему: Магницкий Сергей Александрович