Оптическая диагностика аппроксимантов 1D и 2D апериодических структурстатья

Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science

Работа с статьей

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. Полный текст article.pdf 782,2 КБ 27 декабря 2014 [Ryzhikova]

[1] Оптическая диагностика аппроксимантов 1d и 2d апериодических структур / П. В. Короленко, П. А. Логачев, С. Б. Рыжиков, Ю. В. Рыжикова // Физические основы приборостроения. — 2014. — Т. 3, № 3. — С. 66–71. Дано обоснование скейлинговым методам оптической диагностики аппроксимантов одномерных и двумерных структур квазикристаллического типа, представляющих собой апериодические многослойные системы и дифракционные решетки. Оно опирается на наличие количественной связи между морфологическими особенностями структур аппроксимантов и скейлингом их оптических характеристик. Обнаруженная устойчивость скейлинговых параметров зондирующего излучения к изменению уровня генерации элементарных ячеек аппроксимантов и размеров исследуемых структур указывает на перспективность скейлинговых подходов к совершенствованию диагностики.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть