Effect of extended defects on phonon confinement in polycrystalline Si and Ge filmsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 14 мая 2025 г.