Рентгеновская микроскопия с использованием крайне асимметричного отражения от кристаллатезисы доклада

Работа с тезисами доклада


[1] Рентгеновская микроскопия с использованием крайне асимметричного отражения от кристалла / А. В. Андреев, Ю. В. Пономарев, А. А. Коновко и др. // Труды Третьей Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронной и электронов, РСНЭ-2001, Москва, 21-25 мая 2001 г. — ИКАН, Москва, 2001. — С. 404–404.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть