|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Current transport in ramp-type junctions with engineered interfaceстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Heinsohn J.K., Dittmann R., Contreras J.R., Scherbel J., Klushin A., Siegel M., Jia C.L., Golubov S., Kupryanov M.Y.
- Журнал: Journal of Applied Physics
- Том: 89
- Номер: 7
- Год издания: 2001
- Издательство: AIP Publishing
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 3852
- Последняя страница: 3860
- DOI: 10.1063/1.1351056
- Аннотация: The transport properties of "interface-engineered" edge-type YBa(2)Cu(3)O(7) Josephson junctions are investigated in detail. We have investigated the dependence of the current-voltage characteristics on external magnetic field, temperature, and microwave irradiation and compare them to the resistively shunted junction model. The temperature dependence of the critical current and the normal resistance allows us to draw conclusions to the transport of quasiparticles and Cooper pairs in the investigated "interface-engineered" junctions. We have studied the properties of junctions for which La doped YBa(2)Cu(3)O(7) is used for the superconducting electrodes. We will propose a model for the undoped and the La doped case which takes into account a barrier which consists of a series connection of a normal conducting layer and an insulator, containing superconducting microconstrictions.
- Добавил в систему: Куприянов Михаил Юрьевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | JAP_2001_89_3852.pdf | JAP_2001_89_3852.pdf | 377,7 КБ | 19 февраля 2016 [mkupr] |