The New Features of X-ray Triple Crystal Diffractometry for Characterization of Microscale Surface and Interface Roughness of Single Crystal

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

The New Features of X-ray Triple Crystal Diffractometry for Characterization of Microscale Surface and Interface Roughness of Single Crystalтезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 января 2018 г.

Авторы: Lomov A.A., Bushuev V.A.
Сборник: Abstr. 4th European Conference on “High Resolution X-ray Diffraction and Topography” (Durham, U.K., 9-11 September 1998), P. P1.56
Тезисы
Год издания: 1998
Место издания: Durham
Первая страница: 56
Последняя страница: 56
Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич