|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Особенности получения данных о тонкой атомной структуре наностуктурированных покрытий и пленок при их изучении методом рентгеновской дифрактометриитезисы доклада
- Авторы: Левин И.С., Хрущов М.М., Авдюхина В.М., Шальнов С.А.
- Сборник: Тезисы докладов "Живучесть и конструкционное материаловедение" SSMS-2014
- Тезисы
- Год издания: 2014
- Место издания: ИМАШ РАН Москва
- Первая страница: 37
- Последняя страница: 37
- Аннотация: Описана методика исследования структуры и фазового состава наноструктурированных и нанокомпозитных покрытий методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей. С помощью данной методики проведено изучение легированных хромом алмазоподобных покрытий, полученных методом реактивного магнетронного распыления.
- Добавил в систему: Авдюхина Валентина Михайловна