|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
An advanced X-ray HRD studies of microdefects in Si doped GaAs bulk crystalтезисы доклада
- Авторы: Lomov A.A., Bushuev V.A., Franzosi P., Bocchi C., Imamov R.M.
- Сборник: Proc. 3rd European Symposium “X-Ray Topography and High Resolution Diffraction” (Palermo, Italy, 22-24 April 1996), P. 49
- Тезисы
- Год издания: 1996
- Место издания: Rome
- Первая страница: 49
- Последняя страница: 49
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич