|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Models of the correlated interfacial roughness in multilayers and diffuse X-ray scatteringтезисы доклада
- Авторы: Kozak V.V., Bushuev V.A.
- Сборник: Proc. 3rd European Symposium “X-Ray Topography and High Resolution Diffraction” (Palermo, Italy, 22-24 April 1996), P. 27
- Тезисы
- Год издания: 1996
- Место издания: Rome
- Первая страница: 27
- Последняя страница: 27
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич