Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Характеризация микронных пористых слоёв кремния по данным рентгеновской дифрактометрии
тезисы доклада
Авторы:
Карцев А.А.
,
Ломов А.А.
,
Бушуев В.А.
,
Караванский А.В.
,
Васильев А.Л.
Сборник:
Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.). 2008. С. 103-106
Тезисы
Год издания:
2008
Место издания:
Великий Новгород
Первая страница:
103
Последняя страница:
106
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич