|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Характеризация микронных пористых слоёв кремния по данным рентгеновской дифрактометриитезисы доклада
- Авторы: Карцев А.А., Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский А.В., Васильев А.Л.
- Сборник: Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.). 2008. С. 103-106
- Тезисы
- Год издания: 2008
- Место издания: Великий Новгород
- Первая страница: 103
- Последняя страница: 106
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич