|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Comparative Analysis of Methods for Measurement of the Surface Potential of Dielectrics Charging Under Electron-Beam Irradiation in a Scanning Electron Microscopeстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 декабря 2017 г.
- Авторы: Rau E.I., Tatarintsev A.A., Kupreenko S.Yu, Zaitsev S.V., Podbutsky N.G.
- Журнал: Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
- Том: 11
- Номер: 5
- Год издания: 2017
- Издательство: Pleiades Publishing, Ltd
- Местоположение издательства: Road Town, United Kingdom
- Первая страница: 1062
- Последняя страница: 1068
- DOI: 10.1134/S1027451017050354
- Добавил в систему: Татаринцев Андрей Андреевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Surface2017.pdf | 687,6 КБ | 6 октября 2017 [KupreenkoSU] |