TXRF characterization of inhomogeneous solids: Influence of surface morphologyстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 сентября 2014 г.

Работа с статьей


[1] Txrf characterization of inhomogeneous solids: Influence of surface morphology / N. V. Alov, K. V. Oskolok, A. Wittershagen, B. O. Kolbesen // PV 2003-03 <ISBN 1-56677-348-2>ALTECH 2003 Analytical and Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials, Devices, and Processes. — Published PVs from the ECS Meeting, Paris, France (Spring 2003), 2003. — P. 129–135.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть