Surface morphology characterization using TXRF and SEMстатья

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.

Работа с статьей

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. mag_150_2003_Jan_Alov_1.pdf mag_150_2003_Jan_Alov_1.pdf 845,0 КБ 15 августа 2014 [OskolokKV]

[1] Alov N. V., Oskolok K. V. Surface morphology characterization using txrf and sem // Microscopy and analysis (UK). — 2003. — Vol. 93. — P. 7–9.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть