|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Total-reflection X-ray fluorescence spectroscopy: Analytical signal formation on heterogeneous surfacesстатья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 марта 2020 г.
- Авторы: Oskolok K.V., Alov N.V., Wittershagen A., Mertens M., Kolbesen B.O.
- Журнал: Analytical Sciences
- Том: 17
- Номер: ASIANALYSIS_VI
- Год издания: 2001
- Издательство: Japan Society for Analytical Chemistry
- Местоположение издательства: Japan
- Первая страница: a303
- Последняя страница: a306
- DOI: 10.14891/analscisp.17asia.0.a303.0
- Добавил в систему: Осколок Кирилл Владимирович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | ASIANALYSIS_VI_a303.pdf | ASIANALYSIS_VI_a303.pdf | 979,8 КБ | 15 августа 2014 [OskolokKV] |