Total-reflection X-ray fluorescence spectroscopy: Analytical signal formation on heterogeneous surfacesстатья

Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.

Работа с статьей

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. ASIANALYSIS_VI_a303.pdf ASIANALYSIS_VI_a303.pdf 979,8 КБ 15 августа 2014 [OskolokKV]

[1] Total-reflection x-ray fluorescence spectroscopy: Analytical signal formation on heterogeneous surfaces / K. V. Oskolok, N. V. Alov, A. Wittershagen et al. // Analytical Sciences. — 2001. — Vol. 17, no. ASIANALYSIS_VI. — P. a303–a306. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть