Characterization of thin CeO2 buffer layers deposited on sapphire (Al2O3)тезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 мая 2015 г.

Работа с тезисами доклада


[1] Characterization of thin ceo2 buffer layers deposited on sapphire (al2o3) / S. V. Sokolov, A. V. Knotko, Y. Y. Erokhin et al. // Abstracrts of the MRS Spring'96 Meeting. — San-Francisco, USA, 1996. — P. 461–461.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть