Characterization of thin CeO2 buffer layers deposited on sapphire (Al2O3)

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

Characterization of thin CeO2 buffer layers deposited on sapphire (Al2O3)тезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 мая 2015 г.

Авторы: Sokolov S.V., Knotko A.V., Erokhin Yu Yu, Graboi I.E., Putlayev V.I., Kaul A.R.
Сборник: Abstracrts of the MRS Spring'96 Meeting
Тезисы
Год издания: 1996
Место издания: San-Francisco, USA
Первая страница: 461
Добавил в систему: Кнотько Александр Валерьевич