|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Контроль качества изготовления многослойных оптических покрытий по спектральной кривойтезисы доклада
- Авторы: Тихонравов А.В., Ефремов Д.Е.
- Сборник: 1 Межвузовая научно-техническая конференция "Оптические и радиоволновые методы и средства неразрушающего контроля качества материалов и изделий"
- Том: 2
- Тезисы
- Год издания: 1981
- Первая страница: 254
- Последняя страница: 256
- Добавил в систему: Тихонравов Александр Владимирович