|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Microscopic analysis for TPS SiC material under Earth and Mars re–entry conditionsстатья
- Авторы: J–L Vérant, Perron N., Balat–Pichelin M., Chazot O., Kolesnikov A., Sakharov V., Omaly and P.Gerasimova O
- Журнал: International Journal of Aerodynamics
- Том: 2
- Номер: 2
- Год издания: 2012
- Первая страница: 152
- Последняя страница: 192
- DOI: 10.1504/IJAD.2012.049146
- Добавил в систему: Сахаров Владимир Игоревич