|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Micron-scale vertical beam size measurements based on transition radiation imaging with a Schwarzschild objectiveтезисы доклада
- Авторы: Sukhikh L.G., Potylitsyn A.P., Vukolov A.V., Bajt S., Kube G., Artyukov I.A., Lauth W.
- Сборник: Proceedings of the 4th International Beam Instrumentation Conference IBIC15
- Тезисы
- Год издания: 2015
- Издательство: University of Melbourne
- Местоположение издательства: Australia
- Первая страница: 327
- Последняя страница: 329
- Добавил в систему: Артюков Игорь Анатольевич