THE DETERMINATION OF THE TRUE PROFILE OF XPS LINE BY REGU-LARIZATION METHOD I. Mathematical algorithm and numerical simulationsстатья

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 17 октября 2017 г.

Работа с статьей


[1] The determination of the true profile of xps line by regu-larization method i. mathematical algorithm and numerical simulations / Y. Babanov, O. Nemtsova, I. Kamensky, S. Mikhailova // Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. — 2010. — Vol. 3. — P. 90–96.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть