Application of reflection hologram interferometry with a high resolution to residual stresses characterisation by local material removingстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 5 июня 2017 г.

Работа с статьей


[1] Pisarev V. S., Balalov V. V. Application of reflection hologram interferometry with a high resolution to residual stresses characterisation by local material removing // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. — 2007. — Vol. 6616. — P. 6162–6162. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть