Essential features of residual stress determination in thin-walled plane structures in a base of whole field interferometric measurementsстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 5 июня 2017 г.

Работа с статьей


[1] Essential features of residual stress determination in thin-walled plane structures in a base of whole field interferometric measurements / V. S. Pisarev, I. Odintsev, V. V. Balalov, A. Apalkov // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. — 2003. — Vol. 4933. — P. 155–160. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть