High immunity to threshold voltage variability in undoped ultra-thin FDSOI MOSFETs and its physical understandingстатья
-
Авторы:
Weber O.,
Faynot O.,
Andrieu F.,
Buj-Dufournet C.,
Allain F.,
Scheiblin P.,
Foucher J.,
Daval N.,
Lafond D.,
Tosti L.,
Brevard L.,
Rozeau O.,
Fenouillet-Beranger C.,
Marin M.,
Boeuf F.,
Delprat D.,
Bourdelle K.,
Nguyen B.Y.,
Deleonibus S.
-
Сборник:
2008 IEEE International Electron Devices Meeting
-
Год издания:
2008
-
Место издания:
IEEE
-
DOI:
10.1109/iedm.2008.4796663
-
Добавил в систему:
Бурдель Константин Константинович