Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
High mobility Si/Si<inf>0.5</inf>Ge<inf>0.5</inf>/strained SOI p-MOSFET with HfO<inf>2</inf> /TiN gate stack
статья
Автор:
Zhang B.
Сборник:
2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
Год издания:
2010
Место издания:
IEEE
DOI:
10.1109/icsict.2010.5667475