|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Low frequency noise in strained silicon nanowire array MOSFETs and Tunnel-FETsстатья
- Авторы: Richter S., Vitusevich S., Pud S., Li J, Knoll L., Trellenkamp S., Schafer A., Lenk S., Zhao Q.T., Offenhausser A., Mantl S., Bourdelle K.K.
- Сборник: 2013 Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
- Год издания: 2013
- Место издания: IEEE
- DOI: 10.1109/essderc.2013.6818867
- Добавил в систему: Бурдель Константин Константинович