|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Новые возможности исследования тонкой структуры деформированных материалов на основе анализа профилей рентгеновских дифракционных линийстатья
- Авторы: Елькин И.А., Волков В.А., Чулкина А.А.
- Сборник: Измерения, контроль и диагностика - 2014
- Год издания: 2014
- Первая страница: 246
- Последняя страница: 252
- Добавил в систему: Елькин Иван Александрович