High-resolution thermal imaging with a combination of nano-focus X-ray diffraction and ultra-fast chip calorimetryстатья

Статья опубликована в высокорейтинговом журнале

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 12 февраля 2014 г.

Работа с статьей


[1] High-resolution thermal imaging with a combination of nano-focus x-ray diffraction and ultra-fast chip calorimetry / M. Rosenthal, D. Doblas, J. J. Hernandez et al. // Journal of Synchrotron Radiation. — 2014. — Vol. 21, no. 1. — P. 223–228. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть