|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Application of Unique X-Ray Electron Magnetic Spectrometers for the Investigation and Chemical Analysis of the Electronic Structure of the Ultrathin Surface Layers of Systems in Liquid and Solid Stateстатья
- Авторы: Trapeznikov V.A., Shabanova I.N., Kodolov V.I., Terebova N.S., Kholzakov A.V., Menshikov I.V., Chausov F.F., Naimushina E.A.
- Сборник: Applied Nanotechnology Materials and Applications
- Глава в коллективной монографии
- Год издания: 2016
- Место издания: Apple Academic Press
- Первая страница: 117
- Последняя страница: 173
- Добавил в систему: Теребова Надежда Семеновна