Аннотация:Для изучения связи между свойствами ХСП и природой дефектов в них особый интерес представляет тройная система Ge-S-Bi: в ней имеет место инверсия знака про-водимости от р- к n-типу [1-3] (напр. в (GeS3)100-xBix при х = 8) и, кроме того, наблюдаются собственные парамагнитные дефекты (как и в исходной бинарной системе Ge-S, так и в некоторых тройных системах на ее основе).
Целью данной работы было изучение с помощью ЭПР собственных (СД) и радиационных (РД) дефектов в стеклах (GeS3)100-xBix (x = 0 – 12,) и выявление возможной корреляции между дефектами и изменением типа проводимости (ИТП).