|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Features of Zone Thermal Recrystallization of Germaniun Layers Grown on Silicon Substrates from a Discrete Sourceстатья
- Авторы: Chebotarev S.N., Yatsenko A.N., Lunin L.S.
- Журнал: Solid State Phenomena
- Том: 265
- Год издания: 2017
- Первая страница: 620
- Последняя страница: 626
- DOI: 10.4028/www.scientific.net/ssp.265.620
- Добавил в систему: Чеботарев Сергей Николаевич