Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Imaging and strain analysis of nano-scale SiGe structures by tip-enhanced Raman spectroscopy
статья
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Авторы:
Hermann Peter
,
Hecker Michael
,
Chumakov Dmytro
,
Weisheit Martin
,
Rinderknecht Jochen
,
Shelaev Artem
,
Dorozhkin Pavel
,
Eng Lukas M.
Журнал:
Ultramicroscopy
Том:
111
Номер:
11
Год издания:
2011
Издательство:
Elsevier BV
Местоположение издательства:
Netherlands
Первая страница:
1630
Последняя страница:
1635
Добавил в систему:
Шелаев Артём Викторович