Characterization of CeO2 thin films on a sapphireстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.

Работа с статьей


[1] Characterization of ceo2 thin films on a sapphire / S. V. Sokolov, A. V. Knotko, V. I. Putlayev, A. R. Kaul // Superlattices and Microstructures. — 1998. — Vol. 24, no. 1. — P. 49–53. Thin layers of CeO2 were deposited on the R-plane of a sapphire substrate. The films were tested by x-ray diffraction, scanning electron microscopy and transmission electron microscopy techniques. The films were found to be epitaxial with fine-grain morphology of the surface. (C) 1998 Academic Press. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть