|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Raman Spectra of Silicon/Germanium Alloy Thin Films Based on Porous Siliconстатья
- Авторы: Chubenko E.B., Grevtsov N.L., Bondarenko V.P., Gavrilin I.M., Pavlikov A.V., Dronov A.A., Volkova L.S., Gavrilov S.A.
- Журнал: Journal of Applied Spectroscopy
- Том: 89
- Номер: 5
- Год издания: 2022
- Издательство: Springer-Verlag
- Местоположение издательства: Heidelberg, Germany
- Первая страница: 614
- Последняя страница: 620
- DOI: 10.47612/0514-7506-2022-89-5-614-620
- Добавил в систему: Павликов Александр Владимирович