|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Depth Distribution of Radiation-Induced Defects under the Ion Irradiation of Siliconстатья
- Авторы: Novikov N.V., Chechenin N.G., Shirokova A.A.
- Журнал: Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
- Том: 17
- Номер: 1
- Год издания: 2023
- Издательство: Pleiades Publishing, Ltd
- Местоположение издательства: Road Town, United Kingdom
- Первая страница: 43
- Последняя страница: 47
- DOI: 10.1134/S1027451023010184
- Добавил в систему: Новиков Николай Викторович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Novikov_Chechenin_Shirokova_surf_2023.PDF | 426,8 КБ | 17 мая 2024 [novikov1965] |