Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
X-ray Diffraction Analysis of the Structure In0.53Ga0.47As Films Grown on (100) and (111)A GaAs Substrates with a Metamorphic Buffer
статья
Исследовательская статья
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Авторы:
Folomeshkin M.S.
,
Volkovsky Yu A.
, Prosekov P.A., Galiev G.B., Klimov E.A., Klochkov A.N., Pushkarev S.S.,
Seregin A.Yu
,
Pisarevsky Yu V.
,
Blagov A.E.
,
Kovalchuk M.V.
Журнал:
Crystallography Reports
Том:
67
Номер:
3
Год издания:
2022
Издательство:
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
Местоположение издательства:
Russian Federation
Первая страница:
317
Последняя страница:
322
DOI:
10.1134/s1063774522030075
Добавил в систему:
Львов Кирилл Вячеславович