Reliable optical characterization of e-beam evaporated TiO2 films deposited at different substrate temperaturesстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 октября 2015 г.

Работа с статьей


[1] Reliable optical characterization of e-beam evaporated tio2 films deposited at different substrate temperatures / T. Amotchkina, M. Trubetskov, A. Tikhonravov et al. // Applied optics. — 2014. — Vol. 53, no. 4. — P. A8–A15. We studied e-beam evaporated TiO2 films deposited at two different substrate temperatures between 120oC and 300oC. We reliably characterized the film samples on the basis of in situ and ex situ measurements. We carried out annealing on the samples and studied the induced changes in the properties of the films. The results can be useful for further laser-induced damage threshold investigations. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть