Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Scanning ion-conductance microscopy technique for studying the topography and mechanical properties of Candida parapsilosis yeast microorganisms
статья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Авторы:
Savin Nikita
,
Erofeev Alexander
,
Kolmogorov Vasilii
,
Salikhov Sergey
, Efremov Yuri,
Timashev Peter
,
Grammatikova Natalia
,
Levshin Igor
,
Edwards Christopher
,
Korchev Yuri
,
Gorelkin Petr
Журнал:
BIOMATERIALS SCIENCE
Год издания:
2022
DOI:
10.1039/d2bm00964a
Добавил в систему:
Колмогоров Василий Сергеевич