|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Об изучении радиационных дефектов методом EXAFSтезисы доклада
- Авторы: Андрианов В.А., Тригуб А.Л.
- Сборник: Тезисы докладов 51-й международной Тулиновской конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами / Под ред. проф. Н.Г. Чеченина/ (24-27 мая 2022, МГУ, Москва)
- Тезисы
- Год издания: 2022
- Место издания: МГУ Москва
- Первая страница: 189
- Последняя страница: 189
- Аннотация: Синхротронный метод EXAFS позволяет получить данные расположении атомов в кристаллической решетке. С помощью этого метода можно определить атомные конфигурации различных дефектов, возникающих в результате облучения.
- Добавил в систему: Андрианов Виктор Александрович