Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Characterization of electrical and structural properties of ion-implanted GaAs by Raman scattering
статья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.
Авторы:
Avakyants LP
,
Poliakov PA
, Gorelik VS
Журнал:
Proceedings - Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers
Том:
4070
Год издания:
2000
Издательство:
SPIE
Местоположение издательства:
Bellingham, WA, United States
Первая страница:
438
Последняя страница:
443
DOI:
10.1117/12.378190
Добавил в систему:
Поляков Петр Александрович