Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
X-Ray reflectivity study of porous GaAs layers
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 14 августа 2017 г.
Авторы:
Sutyrin A.
,
Lomov A.
,
Bushuev V.
Сборник:
Abstr. 7th Biennail Conf. on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP-2004, 7-10 Sep. 2004, Prague, Czech. Republic), 2004, P. P-83,
Тезисы
Год издания:
2004
Место издания:
Prague
Первая страница:
83
Последняя страница:
83
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич