Численное моделирование изображений наночастиц в ближнепольной сканирующей оптической микроскопиистатья

Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК

Работа с статьей


[1] Численное моделирование изображений наночастиц в ближнепольной сканирующей оптической микроскопии / В. И. Белотелов, А. П. Пятаков, А. К. Звездин и др. // Журнал технической физики. — 2003. — Т. 73, № 1. — С. 3–9. Теоретически рассматривается наблюдение магнитных и немагнитных наночастиц в ближнепольной сканирующей микроскопии в режиме сбора фотонов. Приводится основанный на использовании метода тензорных электродинамических функций Грина теоретический подход к нахождению оптического ближнего поля при данной конфигурации наблюдения. При помощи численного моделирования получены характерные изображения наночастиц различной формы. Показано, что на топографических особенностях исследуемых объектов (края и углы частицы) вследствие граничных условий происходит изменение плоскости поляризации излучения, что осложняет наблюдение магнитной структуры наночастицы магнитооптическим методом. Вместе с тем ближнепольное исследование распределения намагниченности в однородных тонких пленках является более эффективным, поскольку в этом случае поворот плоскости поляризации в основном обусловлен магнитными особенностями образца.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть