|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Angular distribution of sputtered particles and surface morphology: the case of beryllium under a krypton beam at various incidencesстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 25 декабря 2013 г.
- Авторы: Fournier P.G., Nourtier A., Shulga V.I., Ait El_Fqih M.
- Журнал: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
- Том: 230
- Номер: 1-4
- Год издания: 2005
- Издательство: Elsevier BV
- Местоположение издательства: Netherlands
- Первая страница: 577
- Последняя страница: 582
- DOI: 10.1016/j.nimb.2004.12.104
- Добавил в систему: Шульга Владимир Иванович