|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
T.Chen. On Geometrical Aberrations of an X-ray Beam Experiencing Laue Diffraction Reflection in a Cauchois Scheme. Technical Physics. 2007. Vol.52. № 6. P.759-761статья
- Автор: Chen T.
- Журнал: Technical Physics
- Том: 52
- Номер: 6
- Год издания: 2007
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 759
- Последняя страница: 761
- DOI: 10.1134/S1063784207060138
- Добавил в систему: Чен Тэсик -.