ATOMIC FORCE MICROSCOPY OF THIN SENSOR FILMS OF COPPER PHTHALOCYANINE-POLYSTERENE COMPOSITEстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.

Работа с статьей

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. Полный текст english version pover04_SI.pdf 1,9 МБ 15 июля 2013 [Marat_glm]
2. Полный текст русская версия Poverh11_00StukalovLO.pdf 349,6 КБ 15 июля 2013 [Marat_glm]

[1] Atomic force microscopy of thin sensor films of copper phthalocyanine-polysterene composite / O. M. Stukalov, A. V. Misevich, A. E. Pochtennyi et al. // Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. — 2001. — Vol. 16, no. 11. — P. 1819–1822. The influence of annealing on the structure of thin sensor films of the copper phthalocyanine (CuPc) and polysterene (PS) films obtained by laser sputtering in a vacuum has been studied by AFM. The recrystallization of CuPc as needle-like crystallites has been found at annealing temperatures higher than 200oC. The film annealed at 200oC exhibits the CuPc and PS phases, and that annealed at 250oC contains no polymeric phases most likely due to the evaporation of polymer. The improvement of the sensor properties of the composite films after annealing as compared to those of the films of pure CuPc is explained by their porous structure and a larger effective surface area.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть