Изучение плотности состояний О(F)2s,2р-электронов в ThO2 и ThF4 рентгеноспектральными методамистатья

Работа с статьей


[1] Изучение плотности состояний О(f)2s,2р-электронов в tho2 и thf4 рентгеноспектральными методами / А. Ю. Тетерин, М. В. Рыжков, Ю. А. Тетерин и др. // Известия Академии Инженерных Наук им. А.М. Прохорова. — 2013. — № 1. — С. 73–79.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть