Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Исследование поверхности SnS (100) методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и зондовой микроскопии
статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Авторы:
Яшина Л.В.
,
Волыхов А.А.
,
Васильев С.Ю.
,
Семененко Д.А.
,
Иткис Д.М.
,
Елисеев А.А.
, Харламова М.В.,
Вербицкий Н.И.
,
Зюбина Т.С.
,
Белогорохов А.И.
Журнал:
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники
Номер:
4
Год издания:
2009
Издательство:
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»
Местоположение издательства:
Москва
Первая страница:
50
Последняя страница:
55
Добавил в систему:
Волыхов Андрей Александрович